ACHIEVEMENT
| 번호 | 제목 | 등록번호 | 상태 | 등록일 |
|---|---|---|---|---|
| 34 |
Measurement method for silicon nitride on silicon wafer using Terahertz waveUS Patent김학성, 박동운, 오경환, 김헌수 |
등록결정 | Pending | 2021.12.17 |
| 33 |
샌드위치 구조물 및 그 제조 방법국내특허출원김학성, 이지석, 유명현, 엄희진, 김헌수 |
10-2021-0147675 | Pending | 2021.11.01 |
| 32 |
THICKNESS MEASURING DEVICEUS특허출원김학성, 오경환, 박동운, 김헌수 |
17/607,952 | Pending | 2021.11.01 |
| 31 |
SPECIMEN INSPECTION APPARATUS AND SPECIMEN INSPECTION METHODUS특허출원김학성, 오경환, 박동운 |
17/282,433 | Pending | 2021.04.02 |
| 30 |
PHOTO-SINTERING NANO INK, PHOTO-SINTERING METHOD, AND CONDUCTIVE NANO STRUCTUREEU특허출원김학성, 유충현 |
19796171.7 | Pending | 2020.11.19 |