번호 제목 등록번호 상태 등록일
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테라헤르츠 파를 이용한 미세 결함 검사 장치 및 방법

국내특허출원

김학성, 김헌수, 김상일, 김태완, 이해구, 한동수, 임진상

10-2025-0122662 Pending 2025.08.29
175

Apparatus and Method for Metal Thin Film Inspection Using Terahertz Waves

국제특허출원(PCT)

김학성 김상일 김헌수 김태완 이세민

PCT/KR2025/011430 Pending 2025.07.31
174

객체탐지 딥러닝 알고리즘을 이용한 건물 창세트 자동 치수 측정 및 광특성 계산에 관한 방법

국내특허등록

김학성, 김상일, 이세민, 김규원, 한영구

10-2841213 Register 2025.07.28
173

상하부 대칭 구조를 활용한 제로 워피지 패키징 방법

Double sided zero warpage package structure

김학성, 박종휘, 백정현, 유웅규

10-2838266 Register 2025.07.21
172

테라헤르츠파를 이용한 반도체 기판 검사 장치 및 방법

국내특허출원

김학성, 김상일, 김태완, 전민우, 정현진

10-2025-0096335 Pending 2025.07.14