ACHIEVEMENT
번호 | 제목 | 등록번호 | 상태 | 등록일 |
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69 |
테라헤르츠 파를 이용한 미세 결함 검사 장치 및 방법국내특허출원김학성, 김헌수, 김상일, 김태완, 이해구, 한동수, 임진상 |
10-2025-0122662 | Pending | 2025.08.29 |
68 |
Apparatus and Method for Metal Thin Film Inspection Using Terahertz Waves국제특허출원(PCT)김학성 김상일 김헌수 김태완 이세민 |
PCT/KR2025/011430 | Pending | 2025.07.31 |
67 |
테라헤르츠파를 이용한 반도체 기판 검사 장치 및 방법국내특허출원김학성, 김상일, 김태완, 전민우, 정현진 |
10-2025-0096335 | Pending | 2025.07.14 |
66 |
테라헤르츠파를 이용한 진공 밀폐 부재의 상태 모니터링 장치 및 방법국내특허출원김학성, 김상일, 김태완, 전민우 |
10-2025-0091458 | Pending | 2025.07.08 |
65 |
전단 시험 장치국내특허출원김학성, 김규원, 노현지, 김영우, 송준섭, 김외태, 김동휘, 이충안 |
10-2025-0038684 | Pending | 2025.03.26 |