번호 제목 등록번호 상태 등록일
69

테라헤르츠 파를 이용한 미세 결함 검사 장치 및 방법

국내특허출원

김학성, 김헌수, 김상일, 김태완, 이해구, 한동수, 임진상

10-2025-0122662 Pending 2025.08.29
68

Apparatus and Method for Metal Thin Film Inspection Using Terahertz Waves

국제특허출원(PCT)

김학성 김상일 김헌수 김태완 이세민

PCT/KR2025/011430 Pending 2025.07.31
67

테라헤르츠파를 이용한 반도체 기판 검사 장치 및 방법

국내특허출원

김학성, 김상일, 김태완, 전민우, 정현진

10-2025-0096335 Pending 2025.07.14
66

테라헤르츠파를 이용한 진공 밀폐 부재의 상태 모니터링 장치 및 방법

국내특허출원

김학성, 김상일, 김태완, 전민우

10-2025-0091458 Pending 2025.07.08
65

전단 시험 장치

국내특허출원

김학성, 김규원, 노현지, 김영우, 송준섭, 김외태, 김동휘, 이충안

10-2025-0038684 Pending 2025.03.26