ACHIEVEMENT
| 번호 | 제목 | 등록번호 | 상태 | 등록일 |
|---|---|---|---|---|
| 68 |
결함 검출 방법 및 이를 수행하는 전자 기기국내특허등록김학성, 오경환, 박성현 |
10-1934628 | Register | 2018.12.26 |
| 67 |
광 소결 입자 제조방법, 광 소결 타겟 제조방법 및 광 소결국내특허등록김학성, 황현준, 오경환, 김덕중 |
10-1930159 | Register | 2018.12.11 |
| 66 |
테라헤르츠파를 이용한 비접촉 방식의 시편 분석장치 및 분석방법국내특허출원김학성, 정완호, 박성현, 김동현 |
10-1925677 | Register | 2018.11.29 |
| 65 |
테라헤르츠파를 이용한 비접촉 방식의 시편 분석장치 및 분석방법US Patent Registered김학성, 김동현, 정완호, 박성현 |
10,215,554 | Register | 2018.10.17 |
| 64 |
증착 장비 및 증착 방법국내특허등록김학성, 김영범, 김덕중, 구봉준 |
10-1906670 | Register | 2018.08.08 |